奥林巴斯探伤仪 测厚仪 延迟探头V222-BB-RM​

延迟块探头：
延迟块探头为单晶宽带接触式探头，其特殊的结构设计是在探头晶片前插有塑料或环氧材料制成的一个薄片。延迟块改进了工件近表面缺陷的分辨率，可以测量更薄的材料厚度，并能提供更精确的厚度测量结果。延迟块可根据工件的表面几何形状紧贴在工件上，而且还可用于高温应用中。
 
可更换延迟块探头是一种单晶接触式探头，专门与可更换的延迟块一起使用。
 
优势
• 强阻尼探头加上延迟块可以提供极佳的近场分辨率。
• 较高的探头频率提高了分辨率。
• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。
 
应用
• 精确测厚。
• 垂直声束缺陷探测。
• 对接触区域有限的工件进行检测。可更换延迟块探头
• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和一个固定环。
• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。
• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。
 
 


奥林巴斯探伤仪 测厚仪 延迟探头
• 生成可垂直于检测面传播的横波。
• 为了方便对齐，横波极性的方向名义上与直角连接器呈一条 直线。
• 纵波与横波分量的比率一般在-30 dB以下。



应用
• 横波声速测量。
• 杨氏弹性模量和剪切模量的计算。
• 材料颗粒结构的特性鉴定。


延迟块系列
• 整合型延迟块可以使测量在高频下进行。
• 熔融石英延迟块
• *大程度地降低了衰减性，并为晶片提供了物理意义上的保护。



 

频率	标称晶片尺寸		延迟	探头工件编号
MHz	英寸	毫米	微秒
5	0.25	6	7	V220-BA-RM
10	0.25	6	7	V221-BA-RM
20	0.25	6	7	V222-BA-RM
	0.25	6	7	V222-BB-RM
	0.25	6	4	V222-BC-RM

奥林巴斯
Olympus公司是一家专营光学、电子及精密工程产品，涉及工业、医
疗及消费市场的跨国公司。Olympus生产的仪器有助于保证产品质
量，提高基础设施及设备的安全性。

Olympus NDT公司是全球领先的生产创新型无损检测和测量仪器
的企业。其生产的仪器应用于包括航空航天、电力、石油化工、民用
基础设施、汽车以及消费产品在内的各种工业和研究领域。其掌握
的前沿检测技术包括超声、超声相控阵、涡流、涡流阵列、显微镜
检查、光学计量，以及X光荧光分析。其生产的产品包括探伤仪、测
厚仪、工业NDT系统及扫查器、视频镜、管道镜、高速视频摄像机、
显微镜、便携式X光分析仪、探头及各种辅助设备。

Olympus NDT公司的总部设在美国马萨诸塞州的沃尔瑟姆，并在
世界范围内的各大主要工业地区都设有销售和服务中心。


Panametrics超声探头
我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超
声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的Olympus
NDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分
析等特殊应用的各种各样的定制探头

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