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美国BH贝克休斯接触式双晶直探头SEB
详细信息| 询价留言品牌：美国BH 型号：SEB 产地：美国 原理：声波反射 符合：DIN EN 12668-2标准 晶片：双晶片 材质：金属外壳 符合：DIN EN 12668-2标准 晶片：双晶片 
美国BH贝克休斯接触式双晶直探头
直通波束接触式传感器，双晶片
应用
·腐蚀剩余壁厚测量
·近表面探伤
·小部件-螺钉、螺栓、销钉
·堆焊层检测
·粘结检测
·铁路车轮检测
·轴、棒、坯料的芯部缺陷
·适用于粗晶粒材料检测
功能特点和优势
·出色的近表面分辨率
·提高了在弯曲和粗糙表面上的耦合效果
·减少散射噪声
·可根据工件曲率加工探头曲率
·欧式型号具有侧面安装的Lemo 00连接器、侧面安装的Microdot(SEB.KF型)
·美式型号具有固定的BNC线缆(ADP)或侧面安装的MMD(FDU)接口
线缆
SEKG2(53887
SEKM2(53001)
注释
适用于SEBL、MSEB
适用于SEBKF
探头型号
SEB 1
SEB 1-EN
SEB 2
SEB 2-EN
SEB 2-0°
SEB 2-EN-0°
SEB 4
SEB 4-EN
SB 4-00
SE4-EN-0°
MSEB 2
MSEB 2-EN
MSEB 4
MSEB 4-EN
MSEB 4-0°
MSEB 5
SEB 2 KF5
SEB 4 KFB
SEB 4 KF8-EN
SB 5F
SEB10 KF3
SEB10 KF3-EN
符合DIN EN 12668-2标准
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留 言
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