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    日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

    产品型号: X-MET8000
    品  牌: 日立HITACHI
    • ≧1 台
      ¥168800.00
    所 在 地: 广东深圳
    更新日期: 2025-05-02
    详细信息
     品牌:日立HITACHI  型号:X-MET8000  加工定制:否  
     光源:X射线  波长范围:1610 nm 焦距:400 mm 
     外形尺寸:300 mm 重量:1500 g 适用范围:土壤 金属元素分析仪  

    日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

    简介
    数秒内得到实验室质检结果,可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别,实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起,能够为客户提供各种质量检验应用。


     

    应用广泛

    废旧金属分拣,材料可靠性鉴定,无损金属检测,矿物勘探,符合性检测,土壤分析等。 测量原理:X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射,由于X射线的能量较高,原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后,外层的电子会填补内层电子的空位,这就是电子迁跃,电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差,因此,X射线荧光的能量或波长是具有特征性的,与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此可以进行元素的定量分析。
     


     
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