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美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL
| 产品型号： |
/CMX3-DL |
| 品 牌： |
美国Dakota NDT |
|
|
| 所 在 地： |
广东深圳 |
| 更新日期： |
2025-05-15 |
| | 品牌：美国Dakota NDT | | 型号：/CMX3-DL | | 加工定制：否 | |
| | 测量范围：0.63 ～508 mm | | 测量误差：1% | | 测量分辨率：0.01mm | |
| | 数据存储：内置4GB SD卡 | | 工作频率：5-20 MHz | | 外形尺寸：63.5x165x31.5 mm | |
美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL
美国DAKOTA公司CMX系列多功能超声波测厚仪，替代CMXDL+标准版和彩屏版。可测量材料的厚度和穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。可配双晶探头和单晶探头。
美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。
CMX2-DL为灰度显示屏 CMX3-DL彩屏显示
特点
100MHz FPGA时序电路设计
可选彩色和灰度显示屏
A/B扫描
手动调节增益和自动增益控制 (AGC)，范围：110dB
自动时间相关增益(TDG)
多种测量模式
脉冲-回波(P-E)模式：测量材料厚度
脉冲-回波涂层(PECT)模式：同时测量材料和涂层厚度
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式：测量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿过涂层测量材料厚度
回波-回波验证(E-EV)模式： 穿过涂层测量材料厚度
测量涂层(CT)模式：只测量涂层厚度
可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
USB Type-C数据接口
内置4GB SD存储卡
美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL技术参数
测量
脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)
脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)，0.0254~2.54mm(涂层)
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围：0.63mm～30.48m(钢)
回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层)
分辨率：0.01mm
声速范围：309.88～18542m/s
单位：公制或英制
校准：一点和两点校准方式
显示
CMX2-DL显示屏：1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素。可视区62x45.7mm，EL背光；
CMX3-DL显示屏：1/4英寸AMOLED彩色显示屏，320x240象素
A-扫描方式：检波+/-(缺陷视场)，RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏)
B-扫描方式：基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数
大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
厚度条形扫描：速度33Hz，在B-扫描和大数字显示中可见
稳定度指示：表示测量值的稳定性
功能状态指示：显示当前激活的功能
超声波参数
测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脉冲：可调方波脉冲发生器
接收：根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可调
计时：单次8位100MHz超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
脉冲重复频率：250Hz
探头
频率范围：1~20MHz
双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式)
LEMO接口，1.2米探头线
存储
容量：内置4GB SD卡
数据结构：网格(字母数字)和顺序(自动识别)
截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录
数据输出：通过USB Type-C连接的计算机
功能
设置：64个用户定义设置，用户也可编辑出厂设置
探头类型可选：内置双路误差校正，提高线性度
报警模式：上下限视听报警
快速扫描模式：每秒250个读数，当探头离开时显示*小值
其他
键盘：12个触摸键
电源：标配为三节5号碱性电池 ，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装
工作温度：-10～60℃
尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含电池385g
包装：ABS工程塑料箱
出厂证书：工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准
双晶探头参数
| 型号 |
频率 |
探头晶片直径 |
探头防磨面直径 |
测量范围 |
说明 |
| T-102-2900 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
标准CT探头(可测涂层厚度) |
| T-101-2900 |
5.0MHz |
4.76mm |
6.35mm |
1.0～50mm |
小管径CT探头 |
| T-102-3300 |
7.5MHz |
6.35mm |
9.53mm |
0.63～152mm |
超薄探头 |
| T-104-2900 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚CT探头 |
| T-042-2000 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
标准高温探头，*高340℃ |
| T-044-2000 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚高温探头，*高340℃ |
| T-212-2001 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
超高温探头，*高480℃ |
| T-214-2001 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚超高温探头，*高480℃ |
注：测试高温表面时需用高温耦合剂
单晶探头参数
| 探头型号 |
频率 |
描述 |
说明 |
| T-402-5507 |
15MHz |
晶片Ø6.35mm |
标准延迟块探头 |
| T-402-6507 |
20MHz |
晶片Ø6.35mm |
延迟块探头 |
| T-4903-2875 |
5MHz |
晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm |
接触式探头 |
| T-4903-4875 |
10MHz |
晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm |
接触式探头 |
| T-4023-2855 |
5MHz |
晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm |
接触式探头 |
| T-4023-4855 |
10MHz |
晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm |
接触式探头 |
| T-481-4507 |
10MHz |
延迟块前端Ø1.59mm |
笔式探头 |
美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。
