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美国GE贝克休斯探伤仪高温测头SEB4KVW70B4GV
详细信息| 询价留言品牌：美国GE 型号：W70B4GV 加工定制：否 用途：探伤仪测厚仪探头 是否进口：是 产地：美国 美国GE贝克休斯高温测头SEB4KV W70B4GV
通过与德国联邦材料检测研究所（BAM）合作,*新研制的斜探头和双晶探头可连续工作至250℃。当接触面温度升高到250℃以上时，测量后的探头必需降底温度。斜探头允许的*大接触温度大约是350℃，但是在如此高的温度下延迟块性能会受到一定的影响。此外，双晶直探头可以承受的*高接触温度大约为800℃。根据温度的不同，选用的偶合剂也不同:Z G T 可以达到2 5 0℃，而Z G M可以达到550℃。在超过550℃的温度下，可以用玻璃粉偶合。这些特殊设计的探头同样可以在-197℃的低温下进行测量。
参数斜探头 附：探头电缆线MPKL2-V，编号：65261在150℃，入射角根据温度的变化而变化。大约是，在45℃下变化为0.260/10℃，在60℃和70℃下变化为0.50/10℃ W45B2GV
W60B2GV
W70B2GV
W45B4GV
W60B4GV
W70B4GV双晶直探头 附：2 x探头电缆线MPKL2-V，编号：65261 SE B4 KV 超声探头高性能硬质陶瓷接触式直探头 典型的波宽：75% K1G
K2G
K4G
K2N
K4N
K5N
K6N典型的波宽：100% G1N
G2N
G4N
G2KB
G5KB
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