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美国GE贝克休斯探伤仪高温测头SEB4KVW70B4GV
| 产品型号： |
W70B4GV |
| 品 牌： |
美国GE |
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| 所 在 地： |
广东深圳 |
| 更新日期： |
2025-06-20 |
| | 品牌：美国GE | | 型号：W70B4GV | | 加工定制：否 | |
| | 用途：探伤仪测厚仪探头 | | 是否进口：是 | | 产地：美国 | |
美国GE贝克休斯高温测头SEB4KV W70B4GV
通过与德国联邦材料检测研究所（BAM）合作,*新研制的斜探头和双晶探头可连续工作至250℃。当接触面温度升高到250℃以上时，测量后的探头必需降底温度。斜探头允许的*大接触温度大约是350℃，但是在如此高的温度下延迟块性能会受到一定的影响。此外，双晶直探头可以承受的*高接触温度大约为800℃。根据温度的不同，选用的偶合剂也不同:Z G T 可以达到2 5 0℃，而Z G M可以达到550℃。在超过550℃的温度下，可以用玻璃粉偶合。这些特殊设计的探头同样可以在-197℃的低温下进行测量。
参数
| 斜探头 |
附：探头电缆线MPKL2-V，编号：65261在150℃，入射角根据温度的变化而变化。大约是，在45℃下变化为0.260/10℃，在60℃和70℃下变化为0.50/10℃ |
W45B2GV
W60B2GV
W70B2GV
W45B4GV
W60B4GV
W70B4GV |
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| 双晶直探头 |
附：2 x探头电缆线MPKL2-V，编号：65261 |
| SE B4 KV |
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| 超声探头高性能硬质陶瓷接触式直探头 |
| 典型的波宽：75% |
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K1G
K2G
K4G
K2N
K4N
K5N
K6N |
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| 典型的波宽：100% |
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G1N
G2N
G4N
G2KB
G5KB |
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