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纸张测厚仪MX-1100美国Oakland
详细信息| 询价留言品牌：美国Oakland 加工定制：否 型号：MX-1100 类型：薄膜 测量范围：0 - 7.5 mm 显示方式：数字 电源电压：220 V 外形尺寸：25 0x 25 0x 280 mm 显示方式：数字 纸张测厚仪MX-1100美国Oakland简介：
仪器特性：■操作简单 三种操作模式：手动，数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机，电脑和*软件。
技术参数：
泰立仪器代理销售全球各大品牌：超声波测厚仪，涂层测厚仪，纸张测厚仪，薄膜测厚仪。 可测样品 所有的薄膜和薄片材料 测量范围 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时，请指定um或mm显示 行程（探头缩回高度） 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil时； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil时。 精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm 平行度 +/-1.0um或更好 测头尺寸 直径4.3mm（薄膜）
直径15.9mm（纸张）
或针对其他材料的其他尺寸测头压力 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜
7.3psi（0.513kg/cm²），纸张
或针对其他材料的其他设置循环速率 20/分钟（40/分钟，可选），薄膜
20/分钟（12/分钟，可选），纸张
或针对其他材料的其他设置下落速率 1mm/sec，纸张 仪器尺寸（宽x长x高） 25 x 25 x 28 cm 标准配置 主机，标准厚度片，脚踏开关 选配件 打印机，质量控制软件（Quality Control Software） 符合标准 ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370
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