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    美国GE水密封体直探头IAP15.6.2

    产品型号： IAP15.6.2
    品  牌： 美国GE
    • ≧1 只
      ￥8800.00
    所 在 地： 广东深圳
    更新日期： 2025-10-31
    详细信息
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     品牌：美国GE  型号：IAP15.6.2  加工定制：否  
     用途：用于检测小缺陷  是否进口：是  加工定制：否  
    美国GE水密封体直探头IAP15.6.2

    美国GE水密封体直探头 A-..和IAP-..：用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测，有非常高的分辨率，这些缺陷在零部件表面下分布展开：例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地，它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试，以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。

    特性：极好的分辨率和非常好的缺陷探测性

    注释：                      
    粗体=首选探头，带简短注释说明
    = 提供探头数据表
    = 提供DGS标尺
    关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。
    关于声束形状见第37页中声束形状编号。
    类型
    [订购号码]    		 D [mm] f [MHz] AB [mm] N F [mm] / 近场分辨率1)
    [mm]    		 声束形状
    编号    		 备注 草图
    缺陷探测的高分辨率探头，UHF插座，特性带宽：80%
    IA5.8
    IAP5.12.6
    IAP10.6.3
    IAP15.6.2    		 12.7
    19
    9.5
    9.5    		 5
    5
    10
    15    		 60-190
    115-225
    55-130
    40-65    		 130
    150
    75
    50    		 ZYB 0.5Ø in 3
    ZYB 0.5Ø in 1.5
    FBB 0.4Ø in 1.3
    FBB 0.4Ø in 1.0    		 5-12.7
    -
    -
    -    		 点聚焦
    点聚焦
    点聚焦    		 类型39
    类型40
    类型39
    类型39
    带固定电缆的冲击波探头，特性带宽：100%
    H1N
    H2N    		 20
    20    		 1
    2    		 28-156
    50-267    		 64
    127    		 FBB 5Ø in19
    FBB 2Ø in13    		 1-20
    2-20    		   类型36
    H2K
    H5K
    H10K    		 10 2
    5
    10    		 14-77
    34-190
    68-380    		 32
    80
    160    		 FBB 2Ø in6.5
    FBB 2Ø in4
    FBB 2Ø in2    		 2-10
    5-10
    10-10    		   类型37
    H5M
    H10M
    H10MP15
    H10ML15    		 5 5
    10
    10
    10    		 8-52
    16-104
    10-23
    10-23    		 20
    40
    15
    15    		 FBB 2Ø in3
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5    		 5-5
    10-5
    -
    -    		 点聚焦
    线聚焦    		 类型38
    带固定电缆的宽带探头，特性带宽：80%
    L1N
    L2N
    L2K
    L4K
    L5K
    L5M    		 20
    20
    10
    10
    10
    5    		 1
    2
    2
    4
    5
    5    		 28-156
    50-264
    14-77
    28-154
    34-190
    8-52    		 63
    127
    32
    64
    80
    20    		 FBB 2Ø in24
    FBB 2Ø in12
    FBB 2Ø in6
    FBB 2Ø in5
    FBB 2Ø in3.5
    FBB 2Ø in2.5    		 1-20
    2-20
    2-10
    4-10
    5-10
    5-5    		   类型36
    类型36
    类型37
    类型38
    所有探头都有点聚焦或线聚焦形式（请注明焦距）。其它设计根据要求确定。
    1) 注意第5
    附件描述 类型 备注
    探头电缆（2米）
    H..K进行接触测试
    的延迟线
    耦合帽    		 PKI2
    承索    		 用于IA..和IAP..
    承索
    对于干耦合见36页








    探头分为两大类：接触式和水浸式
    接触法探头
    直探头---单晶
    ·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
    ·接触面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
    ·适于穿透厚部件
    ·延迟块用以提高近场分辨率
    ·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
    ·通常用于手动检测
    直探头--双晶
    ·接受发射单元用串扰挡板分开
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
    ·近表面分辨率好，用于较薄部件
    ·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
    ·通常用于手动检测
    斜探头
    ·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
    ·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
    ·大多数标准探头通过模式转换产生横波
    ·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
    ·有单晶探头和双晶探头
    ·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
    ·有时用于机械化或自动化检测
    水浸法探头
    水浸探头
    ·在水中匹配好，效率高
    ·适于具有不规则表面的被检测件
    ·通常用于机械化或者自动化检测
    ·耦合一致性好，检测重复性高
    ·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
    ·探头聚焦可以增进效果
     
     
     
     
     
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