-     探伤仪探头K1SM美国GE详细信息| 询价留言品牌:美国GE 型号:K1SM 加工定制:否 是否进口:是 型号:K1SM 加工定制:否 K1SM探伤仪探头美国GE
 美国GE探伤仪探头 K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探头):用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体,它们的材料会通过声波的散射作用(例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体)而导致高的声波衰减,它们也可以用于测试材料的物理特性(例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性)。
 特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性
 注释:
 粗体=首选探头,带简短 注释说明
 O= 提供探头数据表
 O= 提供DGS标尺
 关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
 关于声束形状见第37页中声束形状编号。
 可按用户需求提供其它衰减值(带宽)、连接插座、频率或单元尺寸的探头。类型 
 [订购号码]D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 声束形状 
 编号备注 草图 特性带宽:25% B0.5SL 
 B1SL
 B2SL34 
 34
 300.5 
 1
 2175-480 
 80-1600
 40-310023 
 46
 7110 
 8
 50.5-34 
 1-34
 2-30类型1 B1S 
 B2S
 B4S
 B5S24 
 24
 24
 241 
 2
 4
 570-1200 
 23-3000
 15-3000
 15-600023 
 45
 88
 1106 
 5
 3
 31-24 
 2-24
 4-24
 5-24提供连接器顶端类型B.S-O 类型2 MB2S 
 MB4S
 MB5S10 
 10
 102 
 4
 530-800 
 15-1500
 10-20008 
 16
 204 
 3
 32-10 
 4-10
 5-10提供连接器顶端类型MBS-O 类型3 特性带宽:60% K0.5S 
 K1S
 K0.5SM
 K1SM34 
 34
 28
 280.5 
 1
 0.5
 1100-250 
 50-1350
 80-145
 40-78023 
 46
 15
 3110 
 6
 8
 60.5-34 
 1-34
 0.5-28
 1-28具有强声波衰减的材料试的粗粒探头 类型1 
 类型1
 类型2
 类型2合成单元,特性带宽:80% K1SC 
 K2SC
 MK1S
 MK2S
 MK4S24 
 24
 10
 10
 101 
 2
 1
 2
 435-1200 
 18-3000
 30-350
 15-700
 10-130023 
 45
 4
 8
 166 
 3
 6
 3
 21-24 
 2-24
 1-10
 2-10
 4-10粗粒探头 特别适合于拉链技术中塑料的测试 类型2 
 类型3附件描述 类型 备注 保护膜 
 (1组=10片)
 延迟线或延迟楔
 探头电缆(2米)耦合剂
 DGS标尺ES57 
 ES45
 ES24
 承索
 PKLL2
 MPKL2
 ZG-F用于B..SL;K..S 
 用于B..S;K..SM;K..SC
 用于MB..S;MK..S
 如用于高温下的测试
 用于B..和K..
 用于MB..S;MK..S
 见36页
 见35页
 
 
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